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半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀測(cè)量誤差測(cè)量范圍
  • 發(fā)布日期:2022-12-09      瀏覽次數(shù):885
    • 半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ,電阻率測(cè)試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性增強(qiáng),更方便于用戶(hù)。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量, 也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料,特別適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高加壓系統(tǒng), 高度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成。半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀主要包括電氣箱和測(cè)試架兩部分,電氣測(cè)試部分由高直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測(cè)試架為壓力傳感器, 加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測(cè)量高,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等特點(diǎn), 并有自校功能。本儀器采用國(guó)際通用的電流-電壓降法即四端子測(cè)量法,可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來(lái)的誤差, 克服了以往傳統(tǒng)的二端測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病,真實(shí)地測(cè)量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。本儀器適用于碳素廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種工具。
      主要參數(shù):
      測(cè)量范圍:
      電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
      電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
      測(cè)量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
      測(cè)量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 μV
      測(cè)量: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
      測(cè)量電流:0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào),
      電流量程:10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
      試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng))納米粉末
      試樣容器:內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm
      試樣高度:16mm ± 0.5mm
      測(cè)量誤差:±0.1mm
      取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
      壓力量程:0 - 100 kg 可調(diào)
      顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動(dòng)顯示單位和小數(shù)點(diǎn)
      電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
      外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
      備有粉末測(cè)試架和固態(tài)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試臺(tái)供選用

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      BXTZ-08半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀

      半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導(dǎo)電類(lèi)型 “P"和 “N"的測(cè)量?jī)x器,是采用溫差效應(yīng)和整流效應(yīng)兩種方法相結(jié)合綜合性的測(cè)量導(dǎo)電型號(hào)儀器,測(cè)量范圍廣硅材料電阻率從10-4~103Ω?cm,儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路,將材料上的微弱信號(hào)放大,并用 “P" “N"數(shù)碼直接顯示,儀器采用手持式四探然探頭,使用簡(jiǎn)單,操作方便,且壽命長(zhǎng),適合半導(dǎo)體材料廠(chǎng)、器件廠(chǎng)和科研部門(mén)需要。用作太陽(yáng)能多晶材料分選時(shí),采用整流法,對(duì)<0.1Ω-cm的材料具有聲光B警功能,廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的原材料篩選環(huán)節(jié),快速高效。
      主要參數(shù):
      測(cè)量范圍:硅單晶材料電阻率10-4~103Ω?cm
      溫差法:10-4~10Ω?cm
      整流法:10~103Ω?cm,并對(duì)<0.1Ω?cm的材料具有聲光報(bào)警功能。
      可測(cè)量材料:半導(dǎo)體硅棒和硅片,及硅碎顆粒。
      可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。
      顯示方式:P、N 燈顯示。
      測(cè)試探頭:手持式 探針間距3mm探針Φ1mm 高速鋼
      電源:220V 50HZ 20W
      儀器尺寸:100×260×260


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