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數(shù)字式四探針測(cè)試儀測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±1字
  • 發(fā)布日期:2022-12-09      瀏覽次數(shù):1000
    • 數(shù)字式四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成功的多用途的綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量棒狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測(cè)量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測(cè)硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測(cè)的儀器。儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測(cè)試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測(cè)試需要安放在一般工作臺(tái)或者工作臺(tái)上,測(cè)試架由探頭及壓力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測(cè)試架設(shè)有手動(dòng)和電動(dòng)兩種裝置供用戶選購。儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成,測(cè)量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對(duì)儀器的電氣性能進(jìn)行校驗(yàn)。儀器具有測(cè)量高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究部門、高等院校,對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試及工藝檢測(cè)。
      主要參數(shù):
      范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴(kuò)展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm
      方塊電阻10-3—103Ω /□
      電阻10-6—105Ω
      可測(cè)半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm
      測(cè)量方式:軸向、斷面均可(手動(dòng)測(cè)試架)
      數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
      測(cè)量誤差------------ 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
      2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
      輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω    0mV檔以上>108Ω
      顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999
      具有極性和過載自動(dòng)顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示
      恒流源:
      (1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
      (2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
      (3)電流誤差-----:±(0.3%讀數(shù)+2字)
      四探針測(cè)試探頭
      (1)探頭間距:1mm   (2)探針機(jī)械游率:±0.3%
      (3) 探針:Φ0.5mm    (4)壓力:可調(diào)
      測(cè)試架:
      (1)手動(dòng)測(cè)試架:探頭上升及下降由手動(dòng)操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測(cè)試。
      (2)電動(dòng)測(cè)試架:探頭的上升和下降由電動(dòng)操作,設(shè)有自動(dòng)控制器控制,探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào),探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來設(shè)定)同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運(yùn)動(dòng)。
      電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W
      外形尺寸:電氣箱130×110×400mm

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      BXBD-086半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀

      半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是普及型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀器,本儀器是根據(jù)四探針原理,適合半導(dǎo)體器材廠,材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻,經(jīng)過對(duì)用戶、半導(dǎo)體廠測(cè)試的調(diào)查,根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,在電路和探頭方面作了重大的修改和技術(shù)上的許多突破,它更適合于半導(dǎo)體器材廠工藝檢測(cè)方面對(duì)中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測(cè)量需要,成為普及型的電阻率測(cè)試儀,具有測(cè)量高,穩(wěn)定性好,輸入阻抗高,使用方便等特點(diǎn)。
      主要參數(shù):
      測(cè)量范圍:電阻率10-3—103Ω-cm,分辯率為 10-4Ω-cm ,可擴(kuò)展到105Ω-cm
      方塊電阻10-2—104Ω/□,分辯率為10-3Ω/□,可擴(kuò)展到106Ω/□
      薄層金屬電阻10-4—105Ω,分辯率為10-4Ω
      可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸:直徑Φ15—Φ125mm;長度:150mm(可擴(kuò)展500mm)
      測(cè)量方式:軸向、斷面均可
      數(shù)字電壓表:
      (1)量程:20mV(分辯率:10μV)、200mV、2V
      (2)測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±1字
      (3)輸入阻抗:大于108Ω
      (4)顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二極管(LED)數(shù)字顯示
      0---1999具有極性、過載、小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示
      恒流源:由交流供電,具有良好的防泄漏隔離功能
      直流電流:0—100mA連續(xù)可調(diào)
      量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
      分辯率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
      電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
      電性能模擬考核誤差:<±0.3%符合ASTM指標(biāo)
      測(cè)試探頭:(1)探針機(jī)械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指標(biāo)
      電源:交流220V±10%  50HZ或60HZ  功率消耗< 30W
      電氣箱外形尺寸:119×440×320mm


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